华兴源创芯片测试机校准装置与方法：提升驱动模块测试精度

2024 年 6 月 18 日，金融界消息，根据天眼查知识产权信息，苏州华兴源创科技股份有限公司申请了一项名为“芯片测试机的校准方法及校准装置”的专利，公开号为 CN202410378505.5，申请日期为 2024 年 3 月。

专利摘要显示，这项专利涉及芯片测试机的校准方法和校准装置。通过对驱动模块在预先设置的不同点位输出的驱动值的全面校准，计算全面的校准后的点位的第一校准值与第一预期值之间的第一误差。如果存在大于驱动模块设定误差的目标预设点位，则计算基于目标预设点位的第一校准值和第一误差的第二校准值，并根据目标预设点位的第二校准值对驱动模块进行局部二次校准，以弥补驱动模块在目标预设点位的误差。这相当于调整驱动模块在目标预设点位的驱动值，使其满足驱动模块的设定误差，从而使得校准后的驱动模块的整体测试精度达到需求，适用于对精度要求高的测试场景。

本文来源：金融界，作者：情报员。